S5 Corporate Response - шаблон joomla Книги
Структурные исследования

КОМПЛЕКС НЕЙТРОННЫХ И РЕНТГЕНОВСКИХ МЕТОДОВ

 

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ УСТАНОВКИ

  • Нейтронный четырехкружный дифрактометр для исследования монокристаллов;
  • Нейтронный дифрактометр для исследования структуры поликристаллов;
  • Нейтронный малоугловой дифрактометр для исследования надмолекулярной структуры полимеров, аморфных и композиционных материалов;
  • Комплекс стандартных рентгеновских установок для структурного анализа;
  • Програмное обеспечение для обработки эксперимента и проведения расчетов по расшифровке и уточнению строения вещества;

 

РЕШАЕМЫЕ ЗАДАЧИ

  • анализ строения и состава, структурных изменений и свойств веществ, материалов, изделий;
  • фундаментальные и прикладные научные исследования в области физики-химии твердого тела, кристаллохимии, кристаллографии, минералогии;
  • исследования в различных областях материаловедения органических, неорганических, металлических, аморфных и композиционных материалов;
  • установление корреляций “состав – структура – свойства” с целью разработки технологий получения новых материалов;
  • проведение структурных исследований физико-химических процессов (например, фазовых переходов) in situ;
  • диагностика состояния, аттестация веществ и материалов по структурным параметрам;

 


 

ЧЕТЫРЕХКРУЖНЫЙ НЕЙТРОННЫЙ ДИФРАКТОМЕТР

 

Реакторный зал, ГЭК-3
 
Монохроматор

Угол монохроматизации

90°

Геометрия

На прохождение

Cu [hkl]

Длина волны λ, Å

113

1.536

331

1.167

224

1.039

115, 333

0.980

006, 442

0.850

Поток на образце, λ = 1.167 Å

~2×105 n/см2·с

 
Образец

Размерпучканаобразце

10×10 мм2

 
Гониометр
HUBER 511, 424

Диапазоны углов гониометра

-40° ≤ 2θ ≤ 145°

-50° ≤ω ≤ 72.5°

-175° ≤ χ ≤ 175°

0° ≤ φ ≤ 360°

 
Детектор
3He счетчик СНМ-16

Прибор используется для обычной кристаллографической работы по определению позиционных и тепловых параметров атомов водорода, элементов с близкими номерами в периодической системе химических элементов в кристаллических структурах молекул, ионных или интерметаллических системах.

Рабочая длина волны 1.167 Å позволяет исследовать монокристаллы с объемом элементарной ячейки более 20 Å3; максимальная величина параметров элементарной ячейки ограничена 24 Å. Фиксированный угол монохроматизациии равный 90° дает хорошее разрешение на больших углах рассеяния, где, в основном, происходит сбор данных. Столик монохроматора позволяет менять длину волны не изменяя геометрии установки. Вклад нейтронов с длиной волны λ/2 составляет менее 0.5%. Программный комплекс САД-5 обеспечивает управление установкой.


 

ПОРОШКОВЫЙ ДИФРАКТОМЕТР



Реакторный зал,ГЭК-5

 

Монохроматор

Угол монохроматизации

30°

Zn[002]

1.279 Å

Геометрия

На отражение

Поток на образце

3×106 n/см2·с

 

Образец

Размер пучка на образце

30 ×50 мм2

Диапазон углов

-10° ≤ 2θ ≤ 140°

0° ≤ω ≤ 360°

 

Детекторы

103He-детекторов СНМ-17

 

Окружение образца

Печка

< 900° C

Криостат

> -180° C

Магнит

0.6 Тл

Порошковый дифрактометр, имеет среднее разрешение ~1% и служит для исследования кристаллической и магнитной структур большого числа систем, показывающих ферро-антиферроэлектрические и особые магнитные свойства.

 

Детекторная система состоит из 10×60' коллиматоров установленных перед 10 точечными 3He-детекторами. Угловое расстояние между двумя соседними детекторами составляет 1° по 2θ. Система позиционирования детекторной системы обеспечивает шаги сканирования 0.05°, 0.1° или 0.2° по 2θ с отклонением не более 0.06'. Вклад нейтронов с длиной волны λ/2 составляет менее 1.5 %. Программный комплекс Obninsk Main Release обеспечивает задание параметров съемки, визуализацию накапливаемых спектров в реальном времени и общее управление установкой.

 


 

МАЛОУГЛОВОЙ НЕЙТРОННЫЙ ДИФРАКТОМЕТР


Реакторный зал, ГЭК-4

 
Монохроматор

Угол монохроматизации

43°

Ge [111]

2.362 Å

Геометрия

На отражение

Δλ

~3 %

Диапазон Q

0.023 – 0.740 Å-1

Поток на образце

~2×106 n/см2·с

 
Образец

Размер пучка на образце

10×10 мм2

Диапазоны углов гониометра

15' ≤ 2θ

 
Детектор

3He счетчик СНМ-16

 

Окружение образца

Печка

< 900° C

Криостат

> -180° C

Дифрактометр используется для исследований структуры (формы и размеров) различных видов дисперсных систем таких как коллоидных растворов, магнитных жидкостей, сплавов на основе Ti, Mn, Li, Ni, протеиновых растворов, коллоидных суспензий и полимеров.